容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測試系統(tǒng)
            
         
        
        
        
        產(chǎn)品名稱: 
            容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測試系統(tǒng)
            
        
            產(chǎn)品型號(hào):
            WBRX-2009
        
        
        
        
        
            產(chǎn)品文檔:
            無相關(guān)文檔
        
        
        
        
            
                簡單介紹
            
            
                容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測試系統(tǒng)是采用分散帶電測量方式測量設(shè)備的介質(zhì)損耗和電容值,相對(duì)于停電預(yù)防性試驗(yàn)可以大大節(jié)省停電時(shí)間,更能反映設(shè)備帶電情況下的絕緣狀況,可以保障電網(wǎng)**、可靠和高效運(yùn)行。
本產(chǎn)品根據(jù)我公司多年累積的經(jīng)驗(yàn),且一次次的改進(jìn)所生產(chǎn)的新品,獲得市場上的一致認(rèn)可。如需咨詢關(guān)于此產(chǎn)品的相關(guān)信息,請(qǐng)電話我公司,我們將會(huì)為您做出相應(yīng)的解答,期待您的來電。
            
            
                
                    容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測試系統(tǒng)  的詳細(xì)介紹
            
            
                一、產(chǎn)品描述
1、在變電站高壓設(shè)備中,容性設(shè)備(如套管、CT、CVT、耦合電容器等)的數(shù)量占40%~50%,其自身的絕緣性能是關(guān)系到設(shè)備現(xiàn)場**運(yùn)行的重要技術(shù)指標(biāo)。容性設(shè)備的絕緣劣化是一個(gè)漸變的過程,但如不及時(shí)發(fā)現(xiàn)并檢修,就可能導(dǎo)致套管發(fā)生故障進(jìn)而引發(fā)突發(fā)性故障,造成巨大的直接、間接經(jīng)濟(jì)損失。
2、容性設(shè)備介質(zhì)損耗帶電測試系統(tǒng)是采用分散帶電測量方式測量設(shè)備的介質(zhì)損耗和電容值,相對(duì)于停電預(yù)防性試驗(yàn)可以大大節(jié)省停電時(shí)間,更能反映設(shè)備帶電情況下的絕緣狀況,可以保障電網(wǎng)**、可靠和高效運(yùn)行。
      本產(chǎn)品根據(jù)我公司多年累積的經(jīng)驗(yàn),且一次次的改進(jìn)所生產(chǎn)的新品,獲得市場上的一致認(rèn)可。如需咨詢關(guān)于此產(chǎn)品的相關(guān)信息,請(qǐng)電話我公司,我們將會(huì)為您做出相應(yīng)的解答,期待您的來電。
二、技術(shù)參數(shù)
 
 
    
        
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             測量范圍及精度 
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             電流測量 
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             測量范圍 
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             Ix=100μA~650mA   In=100μA~650mA 
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             測量精度 
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             ±(1%+1字) 
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             電壓測量 
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             測量范圍 
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             Vn=3V~300V 
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             測量精度 
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             ±(1%U+1字) 
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             介質(zhì)損耗 
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             測量范圍 
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             Tanδ=-200%~200% 
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             測量精度 
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             ±(1%D+1字) 
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             電容比值 
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             測量范圍 
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             Cx:Cn=1:1000~1000:1 
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             測量精度 
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             ±(1%C+1字) 
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             電容量 
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             測量范圍 
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             Cx=10pF~0.3μF 
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             測量精度 
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             ±(1%C+2pF) 
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